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「組み込み開発」の検索結果一覧(1ページ目)

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株式会社Luci

製品資料

株式会社Luci

希望の仕様で電源を一から設計 低コスト&スピード試作の電源開発サービスとは

サイズ・形状・出力容量・規格・ノイズ対策など、ハードウェア製品の開発・製造において、電源ユニットに求められる要件は非常に厳しい。特注に頼ろうにも、納期やロットの制限、コストの問題が伴う。本資料では、解決策を紹介する。

2026/11/06

カテゴリ:
エレクトロニクス
電源

アナログ・デバイセズ株式会社

技術文書・技術解説

アナログ・デバイセズ株式会社

LDOのヘッドルーム電圧を制御してノイズ特性を最適化【ノイズ源・影響編】

スイッチング・レギュレーターのノイズ対策に有効なLDO。そのノイズ除去性能と電力効率をどう両立させるのか? ノイズの正体を探り、ヘッドルーム電圧の制御による最適化の可能性に迫る。

2026/11/05

カテゴリ:
エレクトロニクス
アナログ半導体

アナログ・デバイセズ株式会社

技術文書・技術解説

アナログ・デバイセズ株式会社

電源の冷却方法を最適化し、性能を最大限に引き出すためのポイントとは?

電源の性能と信頼性を左右する熱設計。発熱をどのように管理し、最適な冷却方法を選べばよいのか? 冷却方式の違いから設計上の落とし穴まで、電源性能を引き出すためのポイントに迫る。

2026/11/05

カテゴリ:
エレクトロニクス
アナログ半導体

カールツァイス株式会社

製品資料

カールツァイス株式会社

自社ラボで「回折コントラストトモグラフィ」を誰でも簡単に使える方法とは?

半導体などの金属合金や多結晶材料における非破壊評価は、大型設備を使うのが一般的だった。この常識を覆すべく登場したのが、3D X線顕微鏡の活用により自社ラボレベルで回折コントラストトモグラフィ(DCT)を実現する製品だ。

2026/10/29

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

カールツァイス株式会社

製品資料

カールツァイス株式会社

450nmの空間分解能 半導体不良解析の可能性を切り開く3D X線顕微鏡とは?

半導体や電子部品に高いパフォーマンスが求められ、パッケージ構造の複雑化が進む中、不良発生リスクを抑えるものとして注目されているのが非破壊不良解析だ。本資料では、高精度かつ高速な解析を可能にする3D X線技術を詳しく解説する。

2026/10/29

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

Ikotek USA, Inc.

製品資料

Ikotek USA, Inc.

日本/韓国のIoT市場で勝ち抜く鍵、「ホワイトラベル製造」のメリットとは?

日本や韓国では今後IoT市場の急拡大が予想されているが、自社でデバイスを設計・製造する従来の手法では、現代のニーズに対応できなくなっている。その実態を探りながら、解決策となる「ホワイトラベル製造」のメリットを解説する。

2026/10/23

カテゴリ:
組み込み開発
組み込みボード

株式会社Luci

製品資料

株式会社Luci

蓄電/充電機器開発の課題を一掃する“フルカスタム電源”、その特長を徹底解説

充電/蓄電機器の開発においては、バッテリーの選定や筐体サイズの制約など課題が多い。汎用電源では届かない仕様や現場負担をどう解決すべきか。そこで本資料では、小ロット/短納期にも対応するカスタム電源サービスを紹介する。

2026/10/21

カテゴリ:
エレクトロニクス
電源

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