降圧レギュレーターのVOUTリップル測定時における高周波ノイズ

　降圧レギュレーターの出力電圧リップルを測定したとき、オシロスコープに現れる高周波スパイクは、本当に回路で発生しているノイズなのか。実際には、パワーFETの高速スイッチングによって生じた放射ノイズをプローブが拾い、出力電圧リップルの一部として測定している場合がある。

　本稿では、LTM4628 µModule降圧レギュレーターを用い、プローブの種類や配置によって測定値が変化する原因を検証する。さらに、Ansys Maxwellによる磁場解析から、ホットループで発生する高周波磁束と測定ループの関係を明らかにし、シールドプローブによる実測結果を交えて、実際の出力電圧リップルを正確に測定する方法を解説する。