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「エレクトロニクス」の検索結果一覧(1ページ目)

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アナログ・デバイセズ株式会社

技術文書・技術解説

アナログ・デバイセズ株式会社

ΣΔ型ADCを利用する計測/監視アプリ、分析や制御のタイミングをどう計る?

計測/監視アプリケーションでは、システムの精度を確保しつつ消費電力を低減することが求められるが、そのためにはタイミングに関連する要因について考慮する必要がある。ΣΔ型ADCを利用する場合を例に、そのポイントを解説する。

2025/07/07

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

インフィニオン テクノロジーズ ジャパン株式会社

製品レビュー

インフィニオン テクノロジーズ ジャパン株式会社

疑似差動処理ADCでセンシング動作のノイズを抑制、組み込み製品設計の注目手法

組み込み制御システムの堅牢性を左右するセンシング動作だが、これによって測定された信号は、不要なノイズによる干渉を受けやすいため、ノイズを最小限に抑える必要がある。そこで注目したいアプローチとは?

2025/07/04

カテゴリ:
組み込み開発
組み込みボード

EE Times Japan編集部

プレミアムコンテンツ

EE Times Japan編集部

EE Times Japan×EDN Japan 統合電子版: 半導体業界 これまでの20年、これからの20年―― 電子版2025年6月号

「EE Times Japan×EDN Japan 統合電子版」の2025年6月号を発行しました。今回は、EE Times Japan創刊20周年記念号です。EE Exclusive(電子版限定先行公開記事)は『特別寄稿:半導体業界 これまでの20年、これからの20年』です。

2025/06/23

カテゴリ:
エレクトロニクス
デジタル半導体

アナログ・デバイセズ株式会社

技術文書・技術解説

アナログ・デバイセズ株式会社

アプリケーションの要件に応じ、シグナルチェーンの消費電力を削減する方法

主にバッテリー駆動で利用される計測システムにおいては、高精度/低消費電力のシグナルチェーンが重要になる。主要メーカーが提供するシグナルチェーンの例と、その電力効率をさらに高めるシステムレベルの手法を紹介する。

2025/06/19

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

アナログ・デバイセズ株式会社

技術文書・技術解説

アナログ・デバイセズ株式会社

消費電力要求の厳しい計測処理で、SAR型やΣΔ型のADC製品はどう対応できるか

電気工学分野において、高精度を求めるアプリケーションの計測処理では、SAR型やΣΔ型のADC製品が用いられることが多い。電力要件が厳しい場合、mW単位で電力消費の削減が求められるが、この実現にこれらのADC製品はどう貢献するのか。

2025/06/18

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

Rochester Electronics, Ltd.

市場調査・トレンド

Rochester Electronics, Ltd.

本物と見分けがつかない巧妙な偽造半導体製品、企業が調達で気を付けることは?

偽造半導体製品は、電子機器の安全性と信頼性を脅かす重大なリスクである。今日、偽造品の実態はどうなっているのか。偽造品の手口とともに、信頼性のある半導体製品を調達するための基本的な原則を解説する。

2025/06/16

カテゴリ:
エレクトロニクス
アナログ半導体

日本電計株式会社

製品資料

日本電計株式会社

パワー半導体で注目のGaN、パワーアンプテストの課題と最適なアプローチ

近年、パワーアンプ(PA)には、電力、動作温度、効率の面でより厳しい要件が求められている。このニーズに応えるのが、窒化ガリウム(GaN)だ。しかし、GaN PAの評価には多くのパラメータが関わり、手間と時間の増加が課題となる。

2025/06/12

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

日本電計株式会社

技術文書・技術解説

日本電計株式会社

拡大が期待される非地上系ネットワーク(NTN)市場、最適なRFテスト環境とは?

非地上系ネットワーク(NTN)は3GPPリリース17で初めて導入されて以降、新たな機能・サービスが続々と追加されている。その市場は今後、急速に拡大・発展していくと見られており、適切なNTN RFテスト環境の構築が急務だ。

2025/06/12

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

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