コンテンツ情報
公開日 |
2015/07/01 |
フォーマット |
PDF |
種類 |
技術文書・技術解説 |
ページ数・視聴時間 |
12 |
ファイルサイズ |
3.51MB
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要約
本稿では、SoC設計者が最高の信頼性を備えたNVM IPを選択できるよう、設計からテストに至るすべてのプロセスに関係する主な検討事項として、次の3点について解説します。
- 信頼性に関する主な仕様項目
- 信頼性向上のための設計手法
- キャラクタライズ、クオリフィケーション、信頼性テストによる実証
このプロセスを理解することにより、十分な検討データに基づいて、デザインに応じたMTP NVMを選択できるようになります。こうして選択したNVMは、最終アプリケーションで求められる信頼性を備えているため、製品の収益性が確保されます。また、完全なシリコン・テスト・データを提供してくれるサプライヤを選べば、コストの削減と製品の早期市場投入につながります。