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テクトロニクス

技術文書・技術解説

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EMI認証のための <低コスト> EMIプリコンプライアンス・テスト

コンテンツ情報
公開日 2015/07/21 フォーマット PDF 種類

技術文書・技術解説

ページ数・視聴時間 16ページ ファイルサイズ 2.33MB
要約
EMI認証のための <低コスト> EMIプリコンプライアンス・テスト
設計/プロトタイプの段階でプリコンプライアンス測定を行い、可能性のあるEMI問題を検出、特定することは認証サイトで不合格になるリスクを軽減し、認証にかかる時間と費用を抑える最も効果的な方法です。
製品をコンプライアンス・テストに出す前に、仕様から外れてしまう条件を特定し、問題の領域を系統的に切り分け、さまざまな修正を施すことも可能です。
このアプリケーション・ノートではEMIコンプライアンス・テスト、プリコンプライアンス・テスト、測定の概要について説明します。

目次抜粋

コンプライアンス・テスト(放射エミッション、伝導エミッション)
プリコンプライアンス・テスト
EMI測定のためのスペクトラム・アナライザの設定
導入事例:放射エミッション測定
導入事例:伝導エミッション測定
近傍界と遠方界の測定
近接界ツールによるデバッグ