コンテンツ情報
公開日 |
2016/06/21 |
フォーマット |
PDF |
種類 |
技術文書・技術解説 |
ページ数・視聴時間 |
16 |
ファイルサイズ |
2.83MB
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要約
本格的なIoTの運用で、近い将来、インターネット接続デバイスの数は500億台に上るとも言われている。多くの企業は膨れ上がるデバイスに対し、それぞれ要求されるテストを実施していかなければならない。同時に、デバイスの低価格化が進み、検証ツールが多様化し、ますます複雑なテストが求められるため、自動テストに関する課題は増す一方である。こうした状況に対応していくため、戦略的な自動テストの実施が必要になる。
本資料では、テーマを「コンピューティング」「ソフトウェア」「アーキテクチャ」「I/O」「ビジネス戦略」の5つに分類し、これらのカテゴリごとにテストシステムを最適化するための最新動向を紹介する。例えば、半導体メーカでは他業界に先駆け、生産性の向上やテスト漏れの防止、RMAの合理的な管理などを実現するため、ビックデータの多角的な分析に乗り出しているという。また、5G(第5世代移動通信)のような新しい規格に対応するには、不確定要素の多いコスト面や技術面にも対応できる柔軟性をもったテストシステムの採用がポイントだという。
日本ナショナルインスツルメンツ(NI)は、テスト・計測・組込システム用のツールを提供している。