業界特化型 技術・製品情報サイト
  • MONOist
  • EE Times Japan
  • EDN Japan
  • スマートジャパン
  • BUILT

アイティメディア株式会社

技術文書

アイティメディア株式会社

EE Times Japan×EDN Japan 統合電子版【2015年11月号】

Cover Story「フラッシュメモリの現在」では、2015年8月に開催された「フラッシュメモリサミット」の講演を基に、フラッシュメモリの最新動向をお届けします。

コンテンツ情報
公開日 2016/07/07 フォーマット PDF 種類

技術文書

ページ数・視聴時間 53ページ ファイルサイズ 4.75MB
要約
 エレクトロニクス技術の今をまとめ読み――エレクトロニクス技術の最新動向をお届けする「EE Times Japan」と、電子設計の技術情報を発信する「EDN Japan」の両メディアが発行した「EE Times Japan×EDN Japan 統合電子版」の2015年11月号をご紹介。

 特集記事では、2015年8月に開催された「フラッシュメモリサミット」の講演を基に、フラッシュメモリの最新動向をお届けします。

Cover Story:
 フラッシュメモリの現在
Special Report:
 「CEATEC JAPAN 2015」リポート
Design Feature:
 理想的なインターコネクトの特性とは
Tech News & Trends:
 有機材料が“ムーアの法則”を延命するなど4本
Tear Down:
 「iPhone 6s」を分解
Interview:
 日本で得た知見を世界へ、5Gでもけん引役を狙う
News Digest:
 2015年9月/10月 EE Times Japan記事ランキングトップ20
マイコン入門!! 必携用語集:
 時間、順序を律義に守る――リアルタイムOSとは
Wired, Weird:
 原因は予想外の場所に潜む!――修理は“気付き”が大切