コンテンツ情報
公開日 |
2017/10/18 |
フォーマット |
PDF |
種類 |
技術文書・技術解説 |
ページ数・視聴時間 |
29ページ |
ファイルサイズ |
1.43MB
|
要約
デジタルプリディストーションとダイナミック電源の状態をテスト 線形性や効率といった要件を満たすため、システム開発者は、デジタルプリディストーション(DPD)などの線形性テクニックを使用して線形性を高めたり、エンベロープトラッキング(ET)やダイレクトポーラ(DP)変調などのダイナミック電源(DPS)テクニックを使用して効率の向上を図っています。
(英語資料)
Part 2の内容:
・パワーアンプの動作特性
・AM-AM/AM-PM計測
・メモリ効果
・非線形歪みがもたらす影響
・デジタルプリディストーション(DPD)
・DPDによる変調伝達への影響
・無記憶性ルックアップテーブル(LUT)
・PAの記憶性を考慮する場合のデジタルプリディストーション
・メモリ多項式モデル(MPM)
・一般化されたメモリ多項式モデル(GMP)
・DPD条件下でPAをテスト
・ダイナミック電源トランスミッタ(エンベロープトラッキング)
・ダイナミック電源テクニックの概要
・トランジスタレベルでの効率
・ダイナミック電源PAのテスト
・同期とアライメントの課題を解決