大量の負荷変動下での電源の信頼性の最適化

今日の集積回路はこれまでになく高速に動作している。動作速度が向上すると、電源からのダイナミックパワーの需要が非常に大きくなり、プログラマブル電源を使用して電源を供給する際のテストで問題が発生する。高速電流波形は、集積回路における電圧降下につながる可能性がある。問題が深刻な場合は、電圧降下によってマイクロプロセッサがリセットされたり、テスト結果に異常をきたしたりする可能性がある。

このアプリケーションノートでは、この電圧降下が発生する原因について説明する他、最適な負荷リードと電源を選択してローカルバイパスを使用することで可能な限り電圧降下を抑える方法をいくつか記載している。