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ローデ・シュワルツ・ジャパン株式会社

技術文書

ローデ・シュワルツ・ジャパン株式会社

最大8GHzまで対応、広帯域化する電子デバイスのデバッグに最適な製品とは

電子機器や組み込み機器を開発する際、そのデバッグには計測機器が欠かせない。近年ではさまざまな機器に無線モジュールが搭載され、計測機器に要求される精度や機能の水準が上がっている。そうした課題に有効な製品とは。

コンテンツ情報

公開日 2018/06/28 フォーマット PDF 種類 技術文書
ページ数・視聴時間 2ページ ファイルサイズ 672KB

要約

 近年の電子機器や組み込みデバイスでは、数多くの機能が搭載され、さまざまな高速シリアル通信だけでなく、無線モジュールも搭載されており、計測すべき帯域も広帯域化している。こうした製品の開発においては、エラーの少ない通信を実現させるために、基板上にあるノイズなどの原因を一つ一つ突き止めて検証していかなければならない

 だが、こうした開発では、デバッグや挙動確認に高機能な計測機器が必要になったり、複数の製品を組み合わせたデバッグが必要になったりすることもあり、それがデバッグコストの増大を招いてしまう。

 そこで本ホワイトペーパーでは、広帯域のデバイスでも精度の高い計測を可能にし、さらに多彩な機能をもつハイパフォーマンス・オシロスコープを紹介している。他の機器が行ってきた計測をこの1台で対応することで、計測器導入コスト削減も期待できるようになるという。

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