コンテンツ情報
公開日 |
2018/08/29 |
フォーマット |
PDF |
種類 |
製品資料 |
ページ数・視聴時間 |
7ページ |
ファイルサイズ |
298KB
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要約
HILでは、システム全体で実世界のテストを行う前に、仮想環境で問題の対象部分のみをシミュレーションすることによって、組み込み制御デバイスを徹底的にテストできる。
この機能があれば、テストするシステムが複雑化しても、優れた費用対効果で、市場投入時期の早期化や高信頼性といった要件を満たすことができる。本稿では、HILテストシステムの主要な3つのコンポーネント「リアルタイムプロセッサ」「I/Oインタフェース」「オペレーターインタフェース」、およびハードウェア欠陥生成を紹介。
また、複数のECUを搭載したシステムのテストに求められる追加の分散処理能力と配線を簡素化するリモートI/Oにも触れる。NIでは、HILテストシステムの実装用に、PXIプラットフォームをはじめとする、さまざまなリアルタイム処理オプションを用意している。