ECUの高い信頼性を約束する、欠陥生成ユニット（FIU）とは？

　多くのHIL（Hardware-in-the-Loop）テストシステムでは、ハードウェア欠陥生成を行ってECU（電子制御装置）とシステムの他の部分との間に信号欠陥を組み込み、特定の故障条件下でのECUの動作テストや特性評価、検証を行っている。

　欠陥生成ユニット（FIU）をテストシステムのI/OインタフェースとECUの間に挿入して、バッテリー消耗や短絡、開回路などの故障状態と通常操作の切り替えを行うなど、ECUの高信頼性に貢献している。まさに、自動車や航空機、宇宙船、機械などに必須のテストといえる。

　本稿では、欠陥生成ユニットの内部を解説しながら、開回路欠陥、短絡、ピン間短絡について触れていく。また、NIのPXIベースのFIUユニットを使用することで、安全性や信頼性、接続性といった観点でのメリットも紹介していく。