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日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

製品資料

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

ECUの高い信頼性を約束する、欠陥生成ユニット(FIU)とは?

組み込み制御装置の信頼性に関わるテストシステムにおいて、極めて重要なポイント、「ハードウェアの欠陥生成」。その実行方法や、PXIハードウェアで作成したHILテストシステムに欠陥生成ユニット(FIU)を組み込む方法を詳しく解説。

コンテンツ情報

公開日 2018/08/29 フォーマット PDF 種類 製品資料
ページ数・視聴時間 7ページ ファイルサイズ 271KB

要約

 多くのHIL(Hardware-in-the-Loop)テストシステムでは、ハードウェア欠陥生成を行ってECU(電子制御装置)とシステムの他の部分との間に信号欠陥を組み込み、特定の故障条件下でのECUの動作テストや特性評価、検証を行っている。

 欠陥生成ユニット(FIU)をテストシステムのI/OインタフェースとECUの間に挿入して、バッテリー消耗や短絡、開回路などの故障状態と通常操作の切り替えを行うなど、ECUの高信頼性に貢献している。まさに、自動車や航空機、宇宙船、機械などに必須のテストといえる。

 本稿では、欠陥生成ユニットの内部を解説しながら、開回路欠陥、短絡、ピン間短絡について触れていく。また、NIのPXIベースのFIUユニットを使用することで、安全性や信頼性、接続性といった観点でのメリットも紹介していく。

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