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日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

技術文書

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

エンジニアが直面する、5G広帯域テストにおける「5つの課題」とは?

差し迫る5G市場の需要のため、エンジニアはより高速でコスト効率の高いテストシステムに頼る必要がある。そこで直面する5G広帯域テストにおける課題と、将来の半導体テクノロジを予測する柔軟性を持つソリューションについて解説する。

コンテンツ情報

公開日 2019/12/06 フォーマット PDF 種類 技術文書
ページ数・視聴時間 36ページ ファイルサイズ 5.59MB

要約

 無数の研究活動や3GPPの着実な取り組みにより今があるワイヤレス業界。5Gデバイスと装置のメーカーにおいては、膨大な市場の需要を見込んで、研究段階を飛び越え製品を製造・テストするより良い方法を模索している。

 本稿では、5G物理層についての基礎知識があることを前提として、広帯域アプリケーション用半導体デバイスのテストにおける下記の5つの課題に焦点を当て解説する。

・複雑な広帯域波形との連携
・広域の周波数範囲に対応する広帯域テストベンチの構成
・5Gコンポーネントの特性評価と検証
・Massive MIMOとビームフォーミングの無線テスト
・5Gデバイスの量産テストへの移行

 さらに、5Gデバイスの特性評価と妥当性確認、また製造テストの高速化と最適化を実現する、NIの柔軟なハードウェアとソフトウェアのプラットフォームを紹介する。

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