ネットワーク解析――コンポーネント特性評価を効率化する4つの方法

　シンプルなデザインと簡単なテストだった時代は終わりました。デバイスの小型化と集積化により、研究開発でも製造でもテスト時間が長期化し製品化までの時間が増加しています。複数の測定器の接続、設定、校正は複雑で、コストが高くなる上に時間がかかります。テスト時間の増加は仕方ないと思い込んでないでしょうか。

　1回の接続で複数の正確な測定を実行できるネットワーク・アナライザを使用すれば、時間の短縮とプロセスの簡素化が可能です。高度な機能により、最新デバイスの特性の進歩に先んじた特性評価も可能になります。

　本書では、以下の4つの視点より、ネットワーク・アナライザ機能を利用したデバイステストの効率を向上する方法について解説します。

・タイムドメイン
・スペクトラム解析
・利得圧縮
・自動フィクスチャ除去