高速回路向け電源の品質管理において、微小リップルノイズまで測定する意義とは

　マイコンやFPGA、メモリといった半導体を搭載した製品が市場に増えるとともに、半導体デバイスの電源に求められる品質要件も厳しさを増している。こうした半導体デバイスでは、電源の出力時や切り替え時などに現れるノイズがその動作に大きな影響を与えるためで、電源の設計においては可能な限りこのノイズを抑えることが求められる。

　特にリップルノイズは極めて微小でありながら、半導体デバイスの動作に与える影響は無視できないものである。ただ、その微小さ故に、従来の一般的なプローブでは測定が難しく、測定できたとしても詳細までは分からなかった。この微小ノイズ測定の壁を突破し、µVレベルのリップルノイズも高確度で測定可能なソリューションが昨今注目されている。

　本コンテンツは、最先端の測定技術を採用したプローブソリューションについて、広帯域で100µV単位でのリップルノイズを測定するデモンストレーションの模様を収めた動画だ。48V型の電源評価、ノイズ測定にも対応したソリューションで、電源開発に携わるエンジニアに最適な動画となっている。