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キーサイト・テクノロジー株式会社

製品資料

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スムーズなPCIe(R) 6.0への移行を支援、高精度なテストソリューションの重要性

高性能・広帯域幅のシリアル通信インターコネクトの規格として、幅広い分野で活用されているPCIe規格。この技術を活用した製品を迅速に投入するにはどうすればよいのか。最新のPCIe 6.0にも対応するテストソリューションを紹介する。

コンテンツ情報
公開日 2023/03/17 フォーマット PDF 種類

製品資料

ページ数・視聴時間 41ページ ファイルサイズ 5.82MB
要約
スムーズなPCIe(R) 6.0への移行を支援、高精度なテストソリューションの重要性
 高性能・広帯域幅のシリアル通信インターコネクトの規格として、グラフィック・アダプターカードやネットワークインタフェースカード、AIアプリケーションの推論エンジンなど、さまざまな高性能周辺機器に採用されている「PCIe(R)」。2022年1月には最新仕様のPCIe 6.0がリリースされており、今後は市場に出回ることが予想されている。

 PCIe 6.0は前世代との下位互換性を維持する一方で転送速度を倍増させているが、これを実現するために優れた変調技術であるPAM4シグナリングを採用している。しかしこれにより設計の複雑さが増し、対応製品を開発していく上で新たな課題も出てきているという。

 本資料では、PCIe規格対応製品の開発を行う上での技術的な説明に加え、全世代のPCIe仕様をテスト可能なトータルソリューションを紹介している。PCIe 5.0からPCIe 6.0へのスムーズな移行に欠かせない、規格の知識と最先端のツールに裏打ちされたPCIe測定の整合性を提供する同ソリューションの詳細を、ぜひ確認してほしい。

※PCI-SIG(R), PCIe(R) and PCI Express(R) are US registered trademarks and/or service marks of PCI-SIG.