EDN Japanに掲載した記事を読みやすいPDF形式の電子ブックレットに再編集した「エンジニア電子ブックレット」。今回は、半導体活用において発生し得る不良と対策、注意点を解説した記事を1本のブックレットにまとめました。
【主な内容】
・半導体の製造工程
・実際に経験した不良と対策
・MOSFETのゲート駆動回路の注意点
・MOSFETのアバランシェ耐量の使い方
・MOSFETのアバランシェ不良
・MOSFETの新しいアバランシェ検査法
*)本ホワイトペーパーは、2021年11月~2022年9月にEDN Japanで掲載した連載「中堅技術者に贈る電子部品“徹底”活用講座」の記事を再編集したものです。