パワー半導体で注目のGaN、パワーアンプテストの課題と最適なアプローチ

　パワーアンプ（PA）は、RFトランスミッタに不可欠なコンポーネントであり、RF信号送信チェーンの中で消費電力の大部分を占める。そのため、PAの開発においては適切な特性評価が非常に重要だ。従来、PAの素子にはシリコンが用いられてきた。しかし、近年の技術進歩により、より大きな電力、高い動作温度、優れた効率が求められるようになった。

　このニーズに応えるのが、窒化ガリウム（GaN）だ。GaNは、ワイドバンドギャップという特性を備えており、特に携帯電話基地局での利用に最適とされている。GaNの性能を発揮するには、PAの正確な評価が欠かせない。PAの評価には、さまざまなパラメータが用いられるため、測定には多様な機器が必要となり、手間と時間が膨大になる。そこで、テストの自動化が不可欠となる。

　本資料では、テストシステムの簡素化と自動化を実現するGaN PAテストソリューションについて解説する。また、本ソリューションを用いたテストシステムのセットアップ例も紹介する。多くの事例でテスト時間を5分の1～10分の1にまで短縮しているという同ソリューションの詳細をぜひ確認していただきたい。