高速伝送路の評価／不良解析入門ガイド、インターコネクトの信号劣化の対処方法

　データ転送速度の劇的な高速化に伴い、信号の品質（シグナルインテグリティ）に対する要求が非常に厳しくなっている。そのため、プリント基板やコネクター、ケーブルなどの高速伝送路におけるインピーダンス制御は、空間分解能1mm未満での調整が求められるなど、ますます困難になっている。また実装後に起こる信号劣化やクロストークの原因特定が難しく、シミュレーションだけでは再現できないという問題もある。

　一方、開発者は開発期間の短縮というプレッシャーにもさらされており、試験の効率化および早期の不具合検出が必須の状況だ。そこで本資料では、小型・軽量ながら自動校正機能を備える高精度なTDR測定機器と、一度の計測でTDR（時間領域）とSパラメータ（周波数領域）の両方を取得できる高速インターコネクトアナライザを紹介する。

　また、高速伝送路の評価／不良解析に関する具体的手法を詳しく説明するとともに、コンプライアンス試験に合格したデバイスでも通信エラーが起こる理由を解説。インターコネクトのパーツ性能を評価する方法や、問題発生時の対処方法などを、図版を交えつつ会話形式で分かりやすく解説しているので、参考にしてほしい。