高機能デバイス材料の品質評価、1点測定の限界をどう補う？

　高機能デバイス材料の開発・製造において、水分分布や混合均一性などの評価は、製品の性能や歩留まりに大きく影響する重要な要素だ。しかし、従来の水分計による1点測定では、含水率のばらつきや局所的な乾燥ムラ、成分の偏析といった「面内のばらつき」を見落とし、品質上のリスクにつながる恐れがある。

　このような課題を解決するのが、点測定から面評価へと転換するアプローチだ。幅広い波長域の分光スペクトルを取得する撮影技術により、サンプルを非接触・非破壊のまま面全体で捉え、目視では判別困難な「見えない水分」や「混合ムラ」を高速に可視化する。

　セラミック粉末受入、粉体混合、スラリー・ペースト調製、塗工・成形、乾燥といった各製造工程において、どの工程で、どのようなばらつきが発生しているのかを視覚的に特定できる。条件出しの迅速化や不良原因の解析支援、ロット差解析、歩留まりの向上につながる評価手法だ。詳細な解析イメージや評価事例は、ぜひ資料で確認してほしい。