コンテンツ情報
公開日 |
2021/08/19 |
フォーマット |
PDF |
種類 |
事例 |
ページ数・視聴時間 |
8ページ |
ファイルサイズ |
5.06MB
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要約
高歩留まりのADC(A/Dコンバーター)を開発するためには、電圧や温度ごとのゆらぎやばらつきを考慮するブルートフォース(総当たり)方式のシミュレーションが不可欠となる。しかし、高性能のナノメーターADCを設計するには、コーナーばらつきとパラメトリックばらつきが指数関数的に増加するため、網羅的な検証にはコストや時間がかかりすぎ、現実的とはいえない。
高度なアナログ回路技術を有するメーカーであるAnalog Valueも、こうした課題に直面した企業の1つだ。同社では市場投入時間の短縮を優先し、時間ドメイン2段ADCに外挿手法を組み合わせて検証していたが、精度の低下リスクが顕在化したうえ、その複雑な構造ゆえに機能不良の原因特定は困難を極めていたという。
本コンテンツでは、これらの課題を解決するための同社の取り組みを、ポイントを整理しつつ詳細に解説している。また、時間ドメイン2段ADCに与える統計的ばらつきの影響を正確に検証するために導入したソリューションについても紹介しているので、開発するADCのパフォーマンスや設計歩留まりに課題を抱える企業はぜひ参考にしてほしい。