「回折コントラストトモグラフィ」を研究室レベルで実現する方法とは？

　金属合金および多結晶材料の特性評価においては、非破壊かつ3Dで結晶粒の方位を直接可視化（結晶方位解析）することができる「回折コントラストトモグラフィ（DCT）」という手法が注目されている。しかしこの手法を実践するためには、Spring-8のような大型放射光施設が必要となる。

　回折コントラストトモグラフィを研究室レベルで実現できれば、さまざまな産業分野で開発が飛躍的に促進されるだろう。本資料では、それを実現するソリューションを紹介する。同ソリューションは高分解能「3D X線顕微鏡（XRM）」と結晶粒イメージング解析技術を組み合わせることで、結晶方位などの微細構造の非破壊3Dマッピングを実現する。

　XRMの対物レンズベースの検出器だけでなく、フラットパネル検出器でも3D結晶粒マッピングが可能となっている。フラットパネルを利用することで、DCT高度撮像スキーム、高スループット、広検出領域を組み合わせることが可能となり、大きな試料の結晶学的データも取得することができる。資料では、同ソリューションの技術的な解説の他、メリットや適用アプリケーションについても紹介しているので、ぜひ参考にしていただきたい。