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「エレクトロニクス」の検索結果一覧(6ページ目)

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アルティウム・ジャパン株式会社

製品資料

アルティウム・ジャパン株式会社

クラウド化でプリント基板設計を効率化、エンジニアにとっての理想的な設計環境

あらゆる機器やインフラのスマート化に伴い製品に組み込まれるプリント基板に対する要求がますます複雑化している。世界市場トップのクラウド電子CADの最新バージョンでは、厳しい要求に応えながら設計を効率化する機能が多く実装された。

2024/05/20

カテゴリ:
メカ設計
CAD

アルティウム・ジャパン株式会社

事例

アルティウム・ジャパン株式会社

複雑化する電子設計の課題を、グローバル企業はいかにして克服したのか?

あらゆる製品がインテリジェントな電子機器となり、ユーザー体験の質が向上した一方で、その設計プロセスは複雑化/高度化している。今までにないスピードが求められる設計環境において課題に直面したメーカーは、どう克服したのだろうか。

2024/05/20

カテゴリ:
エレクトロニクス
電子機器関連サービス

東芝デバイス&ストレージ株式会社

技術文書・技術解説

東芝デバイス&ストレージ株式会社

求められるデータセンターの消費電力削減、実現の鍵は高効率DC-DCコンバーター

データセンターの拡張・新設が活発化しているが、一方で消費電力の抑制も強く求められている。ここでは、48VバスラインをサポートするハーフブリッジDC-DCコンバーターのリファレンスデザインを紹介する。

2024/05/20

カテゴリ:
エレクトロニクス
アナログ半導体

カールツァイス株式会社

製品資料

カールツァイス株式会社

先端材料におけるマルチスケール解析、本当に役立つ相関ワークフローとは?

最先端の材料科学では、マルチスケール領域の理解が欠かせない。このため研究・開発には、最良の実験結果を得るための適切なワークフローが求められる。このワークフローの要件をどのように設定すれば、課題を解決できるのか。

2024/04/30

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

カールツァイス株式会社

製品資料

カールツァイス株式会社

次世代エレクトロニクスの不良解析、「3D X線顕微鏡」でどれだけ改善できる?

半導体パッケージングが急激に進歩する一方、高度なパッケージの普及は製造上の新たな課題や不良発生のリスクをもたらしている。しかし、不良は複雑な3D構造内で発生することが多く、検出するのが難しい。この問題を解決する方法とは?

2024/04/30

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

アナログ・デバイセズ株式会社

技術文書・技術解説

アナログ・デバイセズ株式会社

DC/DCコンバーターの電圧制御の仕組み~制御ループ補償の理解と設計方法

DC/DCコンバーターを設計する際に非常に重要な部分である制御ループ補償回路。この制御ループにおける補償回路のパラメータを、トライアンドエラーを繰り返すのではなく正確かつ手早く計算できる設計方法とは?

2024/04/25

カテゴリ:
エレクトロニクス
電源

株式会社アサカ理研

製品資料

株式会社アサカ理研

製造DX実現のカギ、品質検査業務のデジタル化はどう進めればよい?

DXを推進する製造業にとって、手作業が多く残る品質管理部門のデジタル化は喫緊の課題といえる。そこで注目したいのが、多様な測定機から検査データを直接取り込み、測定業務の自動化と検査データの一元管理を実現する品質管理システムだ。

2024/04/25

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

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