パワー半導体で注目のGaN、パワーアンプテストの課題と最適なアプローチ
近年、パワーアンプ（PA）には、電力、動作温度、効率の面でより厳しい要件が求められている。このニーズに応えるのが、窒化ガリウム（GaN）だ。しかし、GaN PAの評価には多くのパラメータが関わり、手間と時間の増加が課題となる。
2025/06/12
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「計測／検査機器」の検索結果一覧（1ページ目）
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拡大が期待される非地上系ネットワーク（NTN）市場、最適なRFテスト環境とは？
非地上系ネットワーク（NTN）は3GPPリリース17で初めて導入されて以降、新たな機能・サービスが続々と追加されている。その市場は今後、急速に拡大・発展していくと見られており、適切なNTN RFテスト環境の構築が急務だ。
2025/06/12
アナログ／デジタル変換器のテストにまつわる課題を解決する、新たな手法とは？
アナログ／デジタル変換器のテストは、製品の信頼性・安全性・品質を確保するために不可欠なプロセスの1つだ。このプロセスをシンプルかつ合理的にし、効率や精度を飛躍的に高めるソリューションが登場した。
2025/06/12
半導体デバイスの電流／電圧のストレステストの新たな形とは？
CMOS、不揮発性メモリ、シリコン／GaN IC、ナノエレクトロニクスなどの分野において、NBTI／PBTI測定やIV特性測定の高速化に対するニーズが急速に高まっている。このようなニーズに応えるソリューションについて解説する。
2025/06/12
MEMSデバイスの品質や信頼性を確保、効果的なテストを実施するには？
近年、自動車や医療などのさまざまな分野で重要性が高まっているのがMEMS（微小電気機械システム）デバイスだ。本資料では、MEMSの基礎知識から、デバイスの信頼性と性能を確保するためのテストの実施方法まで詳しく解説する。
2025/06/12
ADCを利用する高精度の計測、低消費電力で実現する方法とは？
センサーで取得したデータをデジタル化する際に欠かせないA/Dコンバーター（ADC）。ADCを用いた高精度な計測アプリケーションが重要になる中、低消費電力でありながら高い精度を実現する技術とは？
2025/05/15
高精度のシステムにおいて、入力換算ノイズを算出する実用的な手法とは
シグナルチェーンの設計では、各構成要素から生じる誤差やノイズを高精度に把握する必要がある。入力換算ノイズを算出し、システム性能の向上に関する洞察を得る実践的な方法とは？
2025/05/15
半導体不良解析の新境地、プロセス開発を加速する次世代の3D X線顕微鏡の実力
エレクトロニクスの不良解析では、非破壊で可視化および特性評価が可能な3D X線顕微鏡（XRM）が有効だといわれている。しかし、分解能が低いなどの問題もあった。そこで、このような問題を解消した次世代のXRMを紹介する。
2025/04/03
「回折コントラストトモグラフィ」を研究室レベルで実現する方法とは？
非破壊かつ3Dで結晶方位解析が可能な「回折コントラストトモグラフィ（DCT）」は、研究者にとっては夢物語かもれない。なぜなら、Spring-8のような大型放射光施設が必要だからだ。しかし、それを研究室レベルで実現する方法がある。
2025/04/03
製品開発におけるテストの生産性を高める「PXIシステム」の実力とは？
製品開発では、品質を維持しつつ市場投入時間をいかに短くするかが大きな課題となっている。これを実現するためには、スマートで効率的なテストシステムが不可欠だ。そこで注目したいのが、「PXIシステム」だ。動画でこの特徴を紹介する。
2025/02/14
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