業界特化型 技術・製品情報サイト
  • MONOist
  • EE Times Japan
  • EDN Japan
  • スマートジャパン
  • BUILT

「計測/検査機器」の検索結果一覧(1ページ目)

「エレクトロニクス」/「計測/検査機器」の資料は、無料でダウンロードが可能です。「エレクトロニクス」/「計測/検査機器」の比較・検討は TechFactory ホワイトペーパー ダウンロードセンター をお使い下さい。

220件(1〜10件を表示しています)

日本電計株式会社

製品資料

日本電計株式会社

パワー半導体で注目のGaN、パワーアンプテストの課題と最適なアプローチ

近年、パワーアンプ(PA)には、電力、動作温度、効率の面でより厳しい要件が求められている。このニーズに応えるのが、窒化ガリウム(GaN)だ。しかし、GaN PAの評価には多くのパラメータが関わり、手間と時間の増加が課題となる。

2025/06/12

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

日本電計株式会社

技術文書・技術解説

日本電計株式会社

拡大が期待される非地上系ネットワーク(NTN)市場、最適なRFテスト環境とは?

非地上系ネットワーク(NTN)は3GPPリリース17で初めて導入されて以降、新たな機能・サービスが続々と追加されている。その市場は今後、急速に拡大・発展していくと見られており、適切なNTN RFテスト環境の構築が急務だ。

2025/06/12

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

日本電計株式会社

技術文書・技術解説

日本電計株式会社

アナログ/デジタル変換器のテストにまつわる課題を解決する、新たな手法とは?

アナログ/デジタル変換器のテストは、製品の信頼性・安全性・品質を確保するために不可欠なプロセスの1つだ。このプロセスをシンプルかつ合理的にし、効率や精度を飛躍的に高めるソリューションが登場した。

2025/06/12

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

日本電計株式会社

製品資料

日本電計株式会社

半導体デバイスの電流/電圧のストレステストの新たな形とは?

CMOS、不揮発性メモリ、シリコン/GaN IC、ナノエレクトロニクスなどの分野において、NBTI/PBTI測定やIV特性測定の高速化に対するニーズが急速に高まっている。このようなニーズに応えるソリューションについて解説する。

2025/06/12

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

日本電計株式会社

製品資料

日本電計株式会社

MEMSデバイスの品質や信頼性を確保、効果的なテストを実施するには?

近年、自動車や医療などのさまざまな分野で重要性が高まっているのがMEMS(微小電気機械システム)デバイスだ。本資料では、MEMSの基礎知識から、デバイスの信頼性と性能を確保するためのテストの実施方法まで詳しく解説する。

2025/06/12

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

アナログ・デバイセズ株式会社

技術文書・技術解説

アナログ・デバイセズ株式会社

ADCを利用する高精度の計測、低消費電力で実現する方法とは?

センサーで取得したデータをデジタル化する際に欠かせないA/Dコンバーター(ADC)。ADCを用いた高精度な計測アプリケーションが重要になる中、低消費電力でありながら高い精度を実現する技術とは?

2025/05/15

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

カールツァイス株式会社

製品資料

カールツァイス株式会社

半導体不良解析の新境地、プロセス開発を加速する次世代の3D X線顕微鏡の実力

エレクトロニクスの不良解析では、非破壊で可視化および特性評価が可能な3D X線顕微鏡(XRM)が有効だといわれている。しかし、分解能が低いなどの問題もあった。そこで、このような問題を解消した次世代のXRMを紹介する。

2025/04/03

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

カールツァイス株式会社

製品資料

カールツァイス株式会社

「回折コントラストトモグラフィ」を研究室レベルで実現する方法とは?

非破壊かつ3Dで結晶方位解析が可能な「回折コントラストトモグラフィ(DCT)」は、研究者にとっては夢物語かもれない。なぜなら、Spring-8のような大型放射光施設が必要だからだ。しかし、それを研究室レベルで実現する方法がある。

2025/04/03

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

製品レビュー

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

製品開発におけるテストの生産性を高める「PXIシステム」の実力とは?

製品開発では、品質を維持しつつ市場投入時間をいかに短くするかが大きな課題となっている。これを実現するためには、スマートで効率的なテストシステムが不可欠だ。そこで注目したいのが、「PXIシステム」だ。動画でこの特徴を紹介する。

2025/02/14

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

220件(1〜10件を表示しています)

貴社の製品・サービスをTechFactoryに掲載しませんか?
製品およびサービスの資料や記事を掲載することで、見込み顧客となる会員に情報を届け、
関心のある導入/購入の意思決定者の情報を獲得することが可能です。
記事や動画コンテンツの制作もご相談ください。