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「計測/検査機器」の検索結果一覧(1ページ目)

「エレクトロニクス」/「計測/検査機器」の資料は、無料でダウンロードが可能です。「エレクトロニクス」/「計測/検査機器」の比較・検討は TechFactory ホワイトペーパー ダウンロードセンター をお使い下さい。

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ローデ・シュワルツ・ジャパン株式会社

製品資料

ローデ・シュワルツ・ジャパン株式会社

従来の測定限界を超えるスペクトラムアナライザ、その革新的な技術とは?

デジタル変調の高次化が進む中、従来のスペクトラムアナライザでは評価が難しいケースが増えている。本資料では、新アーキテクチャを採用し、従来機では困難だった測定を可能にするスペクトラムアナライザを紹介する。

2025/11/27

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

横河計測株式会社

製品資料

横河計測株式会社

電圧・電流と温度や振動などの同時計測・解析で製品開発をスピードアップ

製品開発や不具合解析の現場では、高速サンプル・多チャネル・長時間の計測に加え、電圧・電流と温度や振動などの同時計測ニーズが高まっている。従来のオシロスコープでは対応が難しい中、DAQシステムが活用されている。

2025/11/20

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

アナログ・デバイセズ株式会社

技術文書・技術解説

アナログ・デバイセズ株式会社

「低消費電力の計測/監視アプリ」を構築する設計者の負担を軽減する秘訣

計測/監視アプリケーションでは低消費電力なシグナルチェーンの構築が不可欠だが、主要なICの選択だけで十分に消費電力を削減できるとは限らない。必要なシステム的アプローチや便利な機能を含め、電力効率を最適化する方法を解説する。

2025/09/17

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

アナログ・デバイセズ株式会社

技術文書・技術解説

アナログ・デバイセズ株式会社

低消費電力/高精度のシグナルチェーンで注意を払うべきタイミング要因

高精度を維持しつつ低消費電力も求められる計測・監視アプリケーションのシグナルチェーン。設計の要であるアナログフロントエンドや逐次比較型A/Dコンバーターでは、どのような事柄に注意すべきなのか。

2025/08/26

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

アメテック株式会社

製品資料

アメテック株式会社

熟練者への依存を脱却、シートメタルパーツを簡単&高精度に3D計測する方法とは

厳格な品質管理/品質保証が求められる現代のモノづくりにおいては、熟練者への依存度がますます高まっている。特にシートメタルパーツは複雑な形状で測定が難しく、経験の有無で精度に差が生じることも多い。この問題を解決する方法とは?

2025/07/31

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

アナログ・デバイセズ株式会社

技術文書・技術解説

アナログ・デバイセズ株式会社

ΣΔ型ADCを利用する計測/監視アプリ、分析や制御のタイミングをどう計る?

計測/監視アプリケーションでは、システムの精度を確保しつつ消費電力を低減することが求められるが、そのためにはタイミングに関連する要因について考慮する必要がある。ΣΔ型ADCを利用する場合を例に、そのポイントを解説する。

2025/07/07

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

アナログ・デバイセズ株式会社

技術文書・技術解説

アナログ・デバイセズ株式会社

消費電力要求の厳しい計測処理で、SAR型やΣΔ型のADC製品はどう対応できるか

電気工学分野において、高精度を求めるアプリケーションの計測処理では、SAR型やΣΔ型のADC製品が用いられることが多い。電力要件が厳しい場合、mW単位で電力消費の削減が求められるが、この実現にこれらのADC製品はどう貢献するのか。

2025/06/18

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

日本電計株式会社

製品資料

日本電計株式会社

パワー半導体で注目のGaN、パワーアンプテストの課題と最適なアプローチ

近年、パワーアンプ(PA)には、電力、動作温度、効率の面でより厳しい要件が求められている。このニーズに応えるのが、窒化ガリウム(GaN)だ。しかし、GaN PAの評価には多くのパラメータが関わり、手間と時間の増加が課題となる。

2025/06/12

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

日本電計株式会社

技術文書・技術解説

日本電計株式会社

拡大が期待される非地上系ネットワーク(NTN)市場、最適なRFテスト環境とは?

非地上系ネットワーク(NTN)は3GPPリリース17で初めて導入されて以降、新たな機能・サービスが続々と追加されている。その市場は今後、急速に拡大・発展していくと見られており、適切なNTN RFテスト環境の構築が急務だ。

2025/06/12

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

日本電計株式会社

技術文書・技術解説

日本電計株式会社

アナログ/デジタル変換器のテストにまつわる課題を解決する、新たな手法とは?

アナログ/デジタル変換器のテストは、製品の信頼性・安全性・品質を確保するために不可欠なプロセスの1つだ。このプロセスをシンプルかつ合理的にし、効率や精度を飛躍的に高めるソリューションが登場した。

2025/06/12

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

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