接合部の微小な抵抗変化をどう捉える？ 先端パッケージの低電流評価
AI・モバイル・エッジ向け先端半導体パッケージでは、接合部の微細化・高密度化に伴い、わずかな抵抗値変化を捉えることが難しくなっている。サンプルへの負荷を抑える低電流印加と高精度測定を両立する、新たな評価技術とは？
2026/08/03
業界特化型 技術・製品情報サイト
「計測／検査機器」の検索結果一覧（1ページ目）
「エレクトロニクス」／「計測／検査機器」の資料は、無料でダウンロードが可能です。「エレクトロニクス」／「計測／検査機器」の比較・検討は TechFactory ホワイトペーパー ダウンロードセンター をお使い下さい。
微細配線間の絶縁劣化をどう捉える？ 先端パッケージ評価の最前線
AI・モバイル・エッジ向け先端半導体パッケージでは、配線の微細化により低電圧での絶縁信頼性評価が重要となる。その鍵となるのが、微小な漏れ電流を高精度で測定し、配線間のわずかな絶縁劣化を捉える技術だ。どのように実現するのか？
2026/08/03
次世代電池の性能を担保する、電極表面状態・粉体混合状態を可視化する方法とは
次世代電池の開発において、「電極表面状態」と「粉体混合状態」は、電池性能を大きく左右する。しかし従来の分析方法では、膨大な時間と費用を要する上、全面を把握することが難しい。本資料ではこの課題を解消するアプローチを紹介する。
2026/08/03
高機能デバイス材料の品質評価、1点測定の限界をどう補う？
高機能デバイス材料の開発・製造において、水分分布や混合均一性などの評価は極めて重要だ。しかし、従来の1点測定などの手法では、面内のばらつきを見落とす恐れがある。そこで考えたいのが、点測定から面評価への転換だ。
2026/08/03
自動車・電子部品メーカーの品質保証 厳格な清浄度規格をクリアするための鍵は
自動車・電子部品メーカーにおける品質保証の現場では、厳格な清浄度規格への適合が求められる。しかし、その対応には規格内容の解釈や作業者の熟練度などさまざまな課題が存在する。これらの課題を一掃するソリューションを紹介する。
2026/07/28
PCIe 6.0対応をどう進める？ 設計開発のテスト効率化と市場投入を早める秘策
高速化が進むPCIe規格では信号品質への要求が厳しくなり、開発段階からの実測評価が欠かせない状況となっている。一方で試験条件の厳格化が進み、開発を急ぐ現場には大きなジレンマが生じている。
2026/03/06
高速伝送路の評価／不良解析入門ガイド、インターコネクトの信号劣化の対処方法
近年、プリント基板やコネクター、ケーブルなどの高速伝送路におけるインピーダンス制御が、より困難になっている。そこで、高速伝送路の評価／不良解析について分かりやすく解説するとともに、具体的なソリューションを紹介する。
2025/12/17
従来の測定限界を超えるスペクトラムアナライザ、その革新的な技術とは？
デジタル変調の高次化が進む中、従来のスペクトラムアナライザでは評価が難しいケースが増えている。本資料では、新アーキテクチャを採用し、従来機では困難だった測定を可能にするスペクトラムアナライザを紹介する。
2025/11/27
電圧・電流と温度や振動などの同時計測・解析で製品開発をスピードアップ
製品開発や不具合解析の現場では、高速サンプル・多チャネル・長時間の計測に加え、電圧・電流と温度や振動などの同時計測ニーズが高まっている。従来のオシロスコープでは対応が難しい中、DAQシステムが活用されている。
2025/11/20
「低消費電力の計測／監視アプリ」を構築する設計者の負担を軽減する秘訣
計測／監視アプリケーションでは低消費電力なシグナルチェーンの構築が不可欠だが、主要なICの選択だけで十分に消費電力を削減できるとは限らない。必要なシステム的アプローチや便利な機能を含め、電力効率を最適化する方法を解説する。
2025/09/17
「エレクトロニクス」に関連するカテゴリ
デジタル半導体 アナログ半導体 計測／検査機器 EDAツール 電子部品 電源 コンピュータ・周辺機器／通信機器 電子機器関連サービス 無線技術 LED ディスプレイ プログラマブルデバイス センサー