アプリケーションの要件に応じ、シグナルチェーンの消費電力を削減する方法
主にバッテリー駆動で利用される計測システムにおいては、高精度／低消費電力のシグナルチェーンが重要になる。主要メーカーが提供するシグナルチェーンの例と、その電力効率をさらに高めるシステムレベルの手法を紹介する。
2025/06/19
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「計測／検査機器」の検索結果一覧（1ページ目）
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低消費電力／高精度のシグナルチェーン、注意を払うべきタイミング要因とは？
信号サンプリングにおけるタイミングへの要求は高く、特に高精度を維持しつつ消費電力を低減したい計測や監視アプリケーションでは極めて重要となる。タイミング規定の主要因となるA/Dコンバーターを使用するシステムでの検討事項とは？
2025/06/19
消費電力要求の厳しい計測処理で、SAR型やΣΔ型のADC製品はどう対応できるか
電気工学分野において、高精度を求めるアプリケーションの計測処理では、SAR型やΣΔ型のADC製品が用いられることが多い。電力要件が厳しい場合、mW単位で電力消費の削減が求められるが、この実現にこれらのADC製品はどう貢献するのか。
2025/06/18
パワー半導体で注目のGaN、パワーアンプテストの課題と最適なアプローチ
近年、パワーアンプ（PA）には、電力、動作温度、効率の面でより厳しい要件が求められている。このニーズに応えるのが、窒化ガリウム（GaN）だ。しかし、GaN PAの評価には多くのパラメータが関わり、手間と時間の増加が課題となる。
2025/06/12
拡大が期待される非地上系ネットワーク（NTN）市場、最適なRFテスト環境とは？
非地上系ネットワーク（NTN）は3GPPリリース17で初めて導入されて以降、新たな機能・サービスが続々と追加されている。その市場は今後、急速に拡大・発展していくと見られており、適切なNTN RFテスト環境の構築が急務だ。
2025/06/12
アナログ／デジタル変換器のテストにまつわる課題を解決する、新たな手法とは？
アナログ／デジタル変換器のテストは、製品の信頼性・安全性・品質を確保するために不可欠なプロセスの1つだ。このプロセスをシンプルかつ合理的にし、効率や精度を飛躍的に高めるソリューションが登場した。
2025/06/12
半導体デバイスの電流／電圧のストレステストの新たな形とは？
CMOS、不揮発性メモリ、シリコン／GaN IC、ナノエレクトロニクスなどの分野において、NBTI／PBTI測定やIV特性測定の高速化に対するニーズが急速に高まっている。このようなニーズに応えるソリューションについて解説する。
2025/06/12
MEMSデバイスの品質や信頼性を確保、効果的なテストを実施するには？
近年、自動車や医療などのさまざまな分野で重要性が高まっているのがMEMS（微小電気機械システム）デバイスだ。本資料では、MEMSの基礎知識から、デバイスの信頼性と性能を確保するためのテストの実施方法まで詳しく解説する。
2025/06/12
高精度のシステムにおいて、入力換算ノイズを算出する実用的な手法とは
シグナルチェーンの設計では、各構成要素から生じる誤差やノイズを高精度に把握する必要がある。入力換算ノイズを算出し、システム性能の向上に関する洞察を得る実践的な方法とは？
2025/05/15
半導体不良解析の新境地、プロセス開発を加速する次世代の3D X線顕微鏡の実力
エレクトロニクスの不良解析では、非破壊で可視化および特性評価が可能な3D X線顕微鏡（XRM）が有効だといわれている。しかし、分解能が低いなどの問題もあった。そこで、このような問題を解消した次世代のXRMを紹介する。
2025/04/03
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