DCDCコンバータの特性評価を自動制御で効率的に
BenchVueソフトウェアを使用し、自動制御で複数の測定器を組み合わせて測定することで、効率的にDCDCコンバータの特性評価を行う手法を紹介します。
2018/01/25
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「エレクトロニクス」の検索結果一覧（74ページ目）
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なぜ校正が必要なのか。不確かさ―測定器の信頼性を高めるために―
自分の行った測定の信頼性をどのように評価したら良いのか、信頼性を確保するためには何が必要なのか、という疑問や悩みを感じたことのある計測器ユーザーは多いのではないか。測定の信頼性を定量的に把握するために必要な「不確かさ」を解説する。
2018/01/15
製品開発に必須となるテストシステムの最適解をトレンドに学ぶ――最新テストシステム事情とは？
5Gや自動車開発のみならずあらゆる製品の開発においてカギとなるのは、 最大限に効率化されたテストシステムでありスマートなテスト戦略である。 本資料は、毎年発行されている最新テスト動向を含む技術レポートであり、2018年最新版となる。
2017/12/30
実路テストをシミュレーションしたSUBARU：実装作業約2週間、ソフトウェア開発コストを1/6にした事例とは？
SUBARUがHORIBAおよびVMCとともに、実路と同等の負荷条件を生成可能な試験用システムを開発。その結果、実装作業をわずか1～2週間で完了、他社のソリューションを採用する場合と比べ製品の購入コストは1/3、ソフトウェアの開発コストは1/6に抑えることができたという。
2017/12/30
Windows 10 IoT対応！ モジュラー型組込みコンピュータ
接続性が重要ポイントであるIoT。センサー、マシン、クラウドコンピューティングセンターなど、ネットワーク機能を備えたあらゆるデバイスとの信頼できる接続を提供する組込みコンピュータをご紹介します。
2017/12/28
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産業用途に耐え得る堅実設計のIoTゲートウェイ
センサー接続からクラウド連携まで、選んで・組み合わせて自分仕様のIoTゲートウェイを実現できるプラットフォームをご紹介します。
2017/12/28
- カテゴリ：
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- コンピュータ・周辺機器／通信機器
高耐圧MOSFETの熱性能を損なわずコスト削減を実現するには～DPAKパッケージからのベストな載せ替え方法～
MOSFETの価格を考えるとき、パッケージコストは大きな影響を及ぼす。DPAKパッケージから同じ要件、メリットを備えた代替パッケージとして、コストメリットの高いSOT-223パッケージを高耐圧スーパージャンクションMOSFET に使用する方法を、最大の課題となる熱挙動の比較を交えながら解説する。
2017/12/27
「ARMv8-M」が目指す「セキュアMCU」、その定義と実装
ARMのMCU向けアーキテクチャ「ARMv8-M」は、同社が提唱する「セキュアMCU」に向けたものとなっている。本稿では、このセキュアMCUの定義と、その実装について解説する。
2017/12/07
「シリコンが帰ってきた」――高まる電子設計と機能検証の重要性
現在の技術トレンドである自動運転や人工知能などはハードとソフトが密接に関係しており、その開発の困難さは増している。効率的な開発を行うための設計と機能検証はどう行うべきか。日本ケイデンスのユーザーカンファレンスより紹介する。
2017/12/07
孫正義が3兆円で買収した「ARM」、その強さの源泉と未来予想図
「シンギュラリティ（技術的特異点）を達成するために必要だった」。ソフトバンクによる3兆円の巨額買収で知名度を上げたARMだが、現在の地位は「製品の素晴らしさ」だけで培われたものではない。Intelの牙城を侵食しつつあるまでに至った、ARMの強さの源泉と描かれるであろう未来予想図を探る。
2017/12/07
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