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「組み込み開発」の検索結果一覧(63ページ目)

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日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

事例

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

半導体テストコスト削減に成功したIDT社、採用した柔軟で低コストなソリューションとは。

半導体デバイスの性能が向上するに従い、ATEシステムが陳腐化するまでの期間は短くなり、すぐに能力の限界に達してしまう。このことがテストコストの高騰を招く大きな要因になっている。テスト項目の変更に柔軟に対応し、効率よくテストを進め、コストを削減する方法とは。

2015/09/04

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

事例

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

富士重工業社、ECUテスト時間を1/20に短縮。-ほか、自動車業界テスト・計測・組込制御事例

増加する複雑なエレクトロニクスやさらなる安全性への要求など課題が多様化する自動車業界。HILテスト、車載データロギングなど、さまざまなアプリケーション分野において、時間短縮、コスト削減、品質向上を実現する手法とは。国内外の事例を紹介。

2015/09/04

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

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