ベンチマークとAIで読み解く、SOLIDWORKSに適したシステム環境とは
SOLIDWORKSは多くのユーザーに支持されているが、高機能であるが故に、その実力を十分に発揮させるためには相応のハードウェアが必要だ。そこで、5種類のワークステーションを用意して、SOLIDWORKS 2025のベンチマークテストを実施した。
2025/06/18
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「メカ設計」の検索結果一覧（7ページ目）
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消費電力要求の厳しい計測処理で、SAR型やΣΔ型のADC製品はどう対応できるか
電気工学分野において、高精度を求めるアプリケーションの計測処理では、SAR型やΣΔ型のADC製品が用いられることが多い。電力要件が厳しい場合、mW単位で電力消費の削減が求められるが、この実現にこれらのADC製品はどう貢献するのか。
2025/06/18
CAEニュースまとめ（2025年1～3月）
CAEツールやシミュレーション技術に関連したニュースをまとめた「CAEニュースまとめ（2025年1～3月）」をお送りする。
2025/06/13
パワー半導体で注目のGaN、パワーアンプテストの課題と最適なアプローチ
近年、パワーアンプ（PA）には、電力、動作温度、効率の面でより厳しい要件が求められている。このニーズに応えるのが、窒化ガリウム（GaN）だ。しかし、GaN PAの評価には多くのパラメータが関わり、手間と時間の増加が課題となる。
2025/06/12
拡大が期待される非地上系ネットワーク（NTN）市場、最適なRFテスト環境とは？
非地上系ネットワーク（NTN）は3GPPリリース17で初めて導入されて以降、新たな機能・サービスが続々と追加されている。その市場は今後、急速に拡大・発展していくと見られており、適切なNTN RFテスト環境の構築が急務だ。
2025/06/12
アナログ／デジタル変換器のテストにまつわる課題を解決する、新たな手法とは？
アナログ／デジタル変換器のテストは、製品の信頼性・安全性・品質を確保するために不可欠なプロセスの1つだ。このプロセスをシンプルかつ合理的にし、効率や精度を飛躍的に高めるソリューションが登場した。
2025/06/12
半導体デバイスの電流／電圧のストレステストの新たな形とは？
CMOS、不揮発性メモリ、シリコン／GaN IC、ナノエレクトロニクスなどの分野において、NBTI／PBTI測定やIV特性測定の高速化に対するニーズが急速に高まっている。このようなニーズに応えるソリューションについて解説する。
2025/06/12
MEMSデバイスの品質や信頼性を確保、効果的なテストを実施するには？
近年、自動車や医療などのさまざまな分野で重要性が高まっているのがMEMS（微小電気機械システム）デバイスだ。本資料では、MEMSの基礎知識から、デバイスの信頼性と性能を確保するためのテストの実施方法まで詳しく解説する。
2025/06/12
AIを使った自動設計も可能、モデルベース定義（MBD）を実現する注目のPLM製品
製造業では、労働力不足や技術継承問題を解消するためにデジタル化や自動化の導入が進んでいる。それにより、3D CADや3Dデータが普及したことで、工数全体が複雑化している状態だ。これを解消するのがモデルベース定義（MBD）だ。
2025/06/11
「モデルベース定義の進化」と伴走する、強化された3D CADソフトの実力
設計と製造において今や欠かすことのできない3D CADだが、ベテラン設計者のノウハウに依存している面も多く、属人化の課題を抱えている。一方で、モデルベース定義に関連する業界規格の進化にも注視する必要がある。
2025/06/11