半導体デバイスの電流／電圧のストレステストの新たな形とは？
CMOS、不揮発性メモリ、シリコン／GaN IC、ナノエレクトロニクスなどの分野において、NBTI／PBTI測定やIV特性測定の高速化に対するニーズが急速に高まっている。このようなニーズに応えるソリューションについて解説する。
2025/06/12
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「計測／検査機器」の検索結果一覧（3ページ目）
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MEMSデバイスの品質や信頼性を確保、効果的なテストを実施するには？
近年、自動車や医療などのさまざまな分野で重要性が高まっているのがMEMS（微小電気機械システム）デバイスだ。本資料では、MEMSの基礎知識から、デバイスの信頼性と性能を確保するためのテストの実施方法まで詳しく解説する。
2025/06/12
高精度のシステムにおいて、入力換算ノイズを算出する実用的な手法とは
シグナルチェーンの設計では、各構成要素から生じる誤差やノイズを高精度に把握する必要がある。入力換算ノイズを算出し、システム性能の向上に関する洞察を得る実践的な方法とは？
2025/05/15
半導体不良解析の新境地、プロセス開発を加速する次世代の3D X線顕微鏡の実力
エレクトロニクスの不良解析では、非破壊で可視化および特性評価が可能な3D X線顕微鏡（XRM）が有効だといわれている。しかし、分解能が低いなどの問題もあった。そこで、このような問題を解消した次世代のXRMを紹介する。
2025/04/03
製品開発におけるテストの生産性を高める「PXIシステム」の実力とは？
製品開発では、品質を維持しつつ市場投入時間をいかに短くするかが大きな課題となっている。これを実現するためには、スマートで効率的なテストシステムが不可欠だ。そこで注目したいのが、「PXIシステム」だ。動画でこの特徴を紹介する。
2025/02/14
センサー計測のテクニカルガイド：高確度の計測を実現するベストプラクティス
センサーは、物理的な現象を測定可能な電気信号に変換するものだ。しかし、一部のセンサーに信号調節が必要になるなど、高確度の測定を実現するためには、いくつかのポイントを押さえることが重要になる。
2025/01/27
製品設計段階で電気回路の課題を洗い出し、効率よく評価試験を行うためには？
電子・電気製品が複雑化する中、品質や安全性を担保するには、上流工程での洗い出しがより重要になった。電気回路の課題を設計段階で抽出するにあたり、効率のよい評価試験環境を構築できる信号発生器に注目したい。
2024/11/14
EV用モーターシステムのデバッグに最適、オシロスコープを使った解析のメリット
EVに限らず、現代の自動車には多数のモーターが利用されている。従来、そのモーターシステムのデバッグにはパワーアナライザが使われてきたが、複雑な現代の自動車では機能不足が目立つ。そこで注目したいのがEV化にも対応できる測定器だ。
2024/08/19
先端材料におけるマルチスケール解析、本当に役立つ相関ワークフローとは？
最先端の材料科学では、マルチスケール領域の理解が欠かせない。このため研究・開発には、最良の実験結果を得るための適切なワークフローが求められる。このワークフローの要件をどのように設定すれば、課題を解決できるのか。
2024/04/30
次世代エレクトロニクスの不良解析、「3D X線顕微鏡」でどれだけ改善できる？
半導体パッケージングが急激に進歩する一方、高度なパッケージの普及は製造上の新たな課題や不良発生のリスクをもたらしている。しかし、不良は複雑な3D構造内で発生することが多く、検出するのが難しい。この問題を解決する方法とは？
2024/04/30
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