半導体デバイスの電流／電圧のストレステストの新たな形とは？
CMOS、不揮発性メモリ、シリコン／GaN IC、ナノエレクトロニクスなどの分野において、NBTI／PBTI測定やIV特性測定の高速化に対するニーズが急速に高まっている。このようなニーズに応えるソリューションについて解説する。
2025/06/12
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「エレクトロニクス」の検索結果一覧（4ページ目）
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MEMSデバイスの品質や信頼性を確保、効果的なテストを実施するには？
近年、自動車や医療などのさまざまな分野で重要性が高まっているのがMEMS（微小電気機械システム）デバイスだ。本資料では、MEMSの基礎知識から、デバイスの信頼性と性能を確保するためのテストの実施方法まで詳しく解説する。
2025/06/12
高精度なAIモデル開発を実現、商用利用できるAI学習用のデータセットとは？
近年、高精度なAIモデルを開発するために、大量かつ多様な上に、法的に問題のない学習データが求められている。そこで画像／音声／3Dデータなどの多様な形式のAI学習用データを、商用利用できる状態で提供するデータセットを紹介する。
2025/06/09
生成AIの安全な開発へ、学習データ選定時に留意したい5つのポイント
生成AIの開発が加速する中、学習データの選定はAIの品質と信頼性を決定づける重要な要素となっている。本資料では、著作権やプライバシー、バイアスなど、学習データを選定する際に留意したい5つのチェックポイントについて解説する。
2025/06/09
Winbond Electronics Corporation
車載システムでも注目のOctal NORフラッシュメモリ、仕様とメリットを徹底解説
組み込みシステムにおける不揮発性メモリのトレンドとして、MCUやMPUでも、NORやNANDといったフラッシュメモリの使用が増え、高速読み出しの要求は高まる一方だ。こうした中、車載システムでも注目のNORフラッシュメモリが登場した。
2025/06/02
シャープのディスプレイ／半導体デバイス事業のこれまで
2012年以降にEE Times Japanで扱った、シャープのディスプレイ／半導体デバイス事業に関する記事をまとめた。
2025/05/30
パワー半導体を分かりやすく解説：基礎から将来的な技術トレンドまで
2025年の見込み値で、3兆円超の市場規模になると予想されるパワー半導体。筑波大学でパワーエレクトロニクス関連の研究に従事する教授が、パワー半導体の基本から将来的な技術トレンドに至るまで、分かりやすく解説する。
2025/05/21
EE Times Japan×EDN Japan 統合電子版：トランプ政権最初の100日 サプライチェーンに吹き荒れた嵐―― 電子版2025年5月号
「EE Times Japan×EDN Japan 統合電子版」の2025年5月号を発行しました。今号のEE Exclusive（電子版限定先行公開記事）は『トランプ政権最初の100日 サプライチェーンに吹き荒れた嵐』です。
2025/05/16
高精度のシステムにおいて、入力換算ノイズを算出する実用的な手法とは
シグナルチェーンの設計では、各構成要素から生じる誤差やノイズを高精度に把握する必要がある。入力換算ノイズを算出し、システム性能の向上に関する洞察を得る実践的な方法とは？
2025/05/15
自動計測制御の大変革、小野測器が実現した高度なシステム再構成とは？
自動計測制御システムで高いシェアを持つ小野測器。同社は試験精度の向上に伴い複数PC・OSを用いる構成が常態化し、配線の複雑化や保守負担、リアルタイム性・拡張性の限界といった課題を抱えていた。この課題を同社はいかに解決したのか。
2025/05/13
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