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「計測/検査機器」の検索結果一覧(6ページ目)

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日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

技術文書・技術解説

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

エンジニアが直面する、5G広帯域テストにおける「5つの課題」とは?

差し迫る5G市場の需要のため、エンジニアはより高速でコスト効率の高いテストシステムに頼る必要がある。そこで直面する5G広帯域テストにおける課題と、将来の半導体テクノロジを予測する柔軟性を持つソリューションについて解説する。

2020/02/20

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

技術文書・技術解説

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

将来にわたってテスト機関を強化する「標準化」とは?

テストカバレッジとプロジェクトのスケジュール、そしてコスト管理のバランスを取ることが求められる航空宇宙/防衛業界のテスト機関。妥協のないテストを実施し、現場を成功へと導く標準化とは、いったいどのようなものなのか。

2020/02/20

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

事例

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

「進化についていけない!」ECUテストの限界をHyundai Kefico社はどう越えた?

複雑化するパワートレインECU。機能テストを進めるHyundai Kefico社は、従来のやり方では自動車用電子機器の進化についていけないという事実に直面した。その局面を転機とした、新しいアプローチと成果を紹介する。

2020/02/07

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

株式会社エヌエフ回路設計ブロック

製品資料

株式会社エヌエフ回路設計ブロック

電子部品の品質担保に欠かせない、インピーダンス測定機器の活用ポイント

さまざまな電子機器の性能向上を支える受動部品は、技術革新とともに世代交代を迎えつつある。より高い品質の部品を提供するためには、より広範囲な条件でも高確度な測定器が欠かせないものになっている。

2019/12/18

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

技術文書・技術解説

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

ECUテストに欠かせないHILS、インタフェースの選択基準を徹底解説

HIL(Hardware-in-the-Loop)テストシステムの構築に欠かせない要素、高性能のモジュール式I/Oインタフェース。リアルタイムプロセッサが使用できるさまざまなI/Oインタフェースオプションについて解説。

2019/08/01

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

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