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「エレクトロニクス」の検索結果一覧(85ページ目)

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キーサイト・テクノロジー株式会社

技術文書・技術解説

キーサイト・テクノロジー株式会社

校正に影響を与える6つの要素 - 校正の成果物と価値のばらつきについて

校正サービスのサプライヤの選定は、非常に簡単なことだと思われている。なぜなら、校正という作業自体には大きな差はなく、どのサービスやサプライヤを選択しても類似したサービスが提供されるはずだからである。ところが、実際にはそうではない。

2017/04/20

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

技術文書・技術解説

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

トヨタ自動車、課題であった実験データの解析時間短縮を実現!約50%削減した部門も その取り組みに迫る

グローバルな事業展開をする製造メーカにとって、マーケットが拡大するにつれ各国/地域規制や実験への負担が増大することは解決すべき課題の一つといえる。本資料では、トヨタ自動車が実験データの解析時間の短縮に向け取組んだ事例を通し解決法を紹介する。

2017/04/19

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

ラティスセミコンダクター

技術文書・技術解説

ラティスセミコンダクター

FPGAによるMIPIインターフェースブリッジの紹介―IoT/ADASなどにおけるインターフェースミスマッチを解消

デバイス開発に際してインタフェースの互換性は頭の痛い問題だ。カメラやディスプレイで用いられる主要プロトコルに対応した、ラティスセミコンダクターのMIPI D-PHYブリッジIC「CrossLink」はそうした問題の多くを解決してくれる。

2017/03/31

カテゴリ:
エレクトロニクス
プログラマブルデバイス

キーサイト・テクノロジー株式会社

技術文書・技術解説

キーサイト・テクノロジー株式会社

USB Type-C 測定のヒント ‐問題と解決策をまとめて解説

USB Type-Cを製品に組み込むには、相互運用性とコンプライアンスを実現するために、いくつかの問題を解決しなければならない。このアプリケーションノートでは、デザインとテストに関する問題と解決策を様々な観点から解説する。

2017/03/31

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

技術文書・技術解説

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

テスト部門を「単なるコストセンター」から、組織に不可欠な戦略的資産としての転換を図るには?

テスト計測の40年を振り返り、複数のトレンドを再確認することで、テスト・計測業界に影響をもたらす主要な技術や手法に関する見解を包括的に学ぶことができる2017年の最新資料。テストに携わるエンジニアや管理者にとって、最新の技術動向を正しく把握できる貴重な一冊です。

2017/03/29

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

株式会社DTSインサイト

技術文書・技術解説

株式会社DTSインサイト

ARMマイコン採用で開発現場が変わる!素早く環境を移行するポイント解説

近年、マイクロコントローラの世界標準になりつつある「ARM Cortex-M」プロセッサ。IoTデバイスに必須の既存のマイコンからARMマイコンに移行する際のポイントを、ARMツール代理店として10年以上の実績を持つDTSインサイトが解説します。

2017/03/06

カテゴリ:
組み込み開発
組み込み開発ツール

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