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「エレクトロニクス」の検索結果一覧(116ページ目)

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日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

技術文書・技術解説

日本ナショナルインスツルメンツ株式会社

電力品質監視と電力計測

産業分野の工場などで、交流電力の品質を監視したり、電力量を計測すれば、工場の予知保全を実現できるだけでなく、エネルギー管理やコスト管理、品質制御も行えるようになる。本稿では、このような監視/計測システムの基礎を解説する。

2011/01/11

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

ローデ・シュワルツ・ジャパン株式会社

技術文書・技術解説

ローデ・シュワルツ・ジャパン株式会社

UMTS Long Term Evolution(LTE)の技術紹介

LTEに対応した携帯端末向け高速データ通信サービスが国内でいよいよ始まる。ユーザーに高い利便性をもたらすLTEだが、旧来のUMTSとは物理層もプロトコルも異なるので、対応システムの開発者には新たな取り組みが求められる。知っておくべきLTEの基礎を解説する。

2010/12/24

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

アジレント・テクノロジー株式会社

技術文書・技術解説

アジレント・テクノロジー株式会社

PCI Expressの概要と評価、測定

高性能シリアル・バスとして、PCだけでなく産業用途や民生機器の内部通信用にも今や幅広く普及したPCI Express。規格の概要から測定/評価の手法や公式試験の全体像、実践的なFAQまで掲載。PCI Expressの概要把握や、ボード設計前の情報入手に最適。

2010/12/22

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

テクトロニクス

技術文書・技術解説

テクトロニクス

設計のトラブルシューティング・ガイド ―― MSO/DPOシリーズ・オシロスコープ

機器開発のトラブルシュートは難しさを増す一方だ。最新のデジタル回路設計では、トランジェント、信号のアベレーション、バス競合など、システム統合に関する新たな問題が降り掛かる。市場投入期間短縮の要求も強い。トラブルの根本原因を素早く突き止めるテクニックとは?

2010/12/22

カテゴリ:
エレクトロニクス
計測/検査機器

日本テキサス・インスツルメンツ合同会社

技術文書・技術解説

日本テキサス・インスツルメンツ合同会社

JEITA準拠のLiイオンバッテリチャージャソリューション

リチウムイオン(Liイオン)バッテリは、高温で過充電されると危険な状態に陥る可能性がある。これらのバッテリを安全に充電することは、バッテリ駆動のポータブル機器において最も重要な設計仕様の1つだ。

2010/12/06

カテゴリ:
エレクトロニクス
アナログ半導体

ナショナル セミコンダクター ジャパン株式会社

技術文書・技術解説

ナショナル セミコンダクター ジャパン株式会社

ディスクリート型レギュレータと集積型パワーモジュールのメリットの比較

ディスクリート型レギュレータと集積型パワーモジュールのいずれのアプローチを選択する場合にも、それぞれメリットとデメリットがある。どのような指標に注目する必要があるのか、詳しく解説した。

2010/12/01

カテゴリ:
エレクトロニクス
アナログ半導体

ザイリンクス株式会社

技術文書・技術解説

ザイリンクス株式会社

新しい3つの28nm FPGAファミリ ― さらなる低消費電力、高性能、設計生産性を実現

かつてない低電力で最高のパフォーマンスを実現するFPGAが登場する。28nm世代の最先端プロセス技術を駆使し、消費電力を前世代品から半減した。共通のアーキテクチャ構造を採る3つのファミリ ― Virtex-7、Kintex-7、Artix-7を提供する。

2010/12/01

カテゴリ:
エレクトロニクス
プログラマブルデバイス

ラティスセミコンダクター

技術文書・技術解説

ラティスセミコンダクター

実用的な低消費電力CPLDデザイン

携帯型機器の開発では、消費電力を最小限に抑えることが重要な設計要件の1つになっている。本稿では、超低消費電力CPLDを活用し、組み込み機器のI/Oサブシステムが無駄に消費している電力を絞り落とすことで、バッテリ寿命を最大に延ばす技術を伝授する。

2010/12/01

カテゴリ:
エレクトロニクス
プログラマブルデバイス

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